原標(biāo)題：iPhone 6 Plus存新質(zhì)量問(wèn)題 恐大規(guī)模召回

　　iPhone 6 Plus存在質(zhì)量上的問(wèn)題，其會(huì)頻繁死機(jī)，可能是使用的TLC NAND存儲(chǔ)器控制IC的問(wèn)題。

　　本身供應(yīng)就不多iPhone 6 Plus接連爆出問(wèn)題，這次又有新的事情發(fā)生。

　　臺(tái)媒、韓國(guó)給出的最新報(bào)道稱，iPhone 6 Plus存在質(zhì)量上的問(wèn)題，其會(huì)頻繁死機(jī)，可能是使用的TLC NAND存儲(chǔ)器控制IC的問(wèn)題。

　　報(bào)道中強(qiáng)調(diào)，蘋果為了節(jié)省成本，使用了TLC NAND存儲(chǔ)器控制，雖然存容量更多，但是讀取/寫入的速度比較慢。

　　之前已經(jīng)有不少果粉在蘋果的官方論壇表示，自己的iPhone 6 Plus送修多次，最夸張的一位送修了4次依然沒(méi)有解決問(wèn)題。業(yè)內(nèi)人士指出，這很可能是iPhone內(nèi)部NAND Flash控制的IC品質(zhì)瑕疵所導(dǎo)致。

　　如果這是真的，那么蘋果或?qū)⒁虼诵即笠?guī)模召回。